PixScan PanelでNOISE_OCCというスキャンを選択。Basic Par's->Events per scan pointを10Mから1Mへ (時間短縮)変更。これはランダムトリガーの入射数。
スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしたい(したくない)occupancyの範囲を指定できる。
例えば occupancyが1e-5より大きいピクセルをhot pixelと定義したい場合は、トリガー数が1Mならば -1 < occupancy < 10 とすればよい。
するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成される。この二次元ヒストグラムには、occupancyが0から9のピクセルに対して1が詰まっており、10以上のピクセルに対して0が詰まっている。このヒストグラムをマスクに用いる。
STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->HITOCCを選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!
config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。
Saveをしないとマスクが保存されない。
FE-I4チップでは、ランダムトリガーを入射した際のhit occupancyの情報を用いてnoisy pixelをマスクすることができる。FE-I3用のSTcontrolにはこの機能は実装されていないのでconfig editorを用いて手動でマスク するしかない。