USBPixI4 Instruction & Tips

PixScan PanelでNOISE_OCCというスキャンを選択。Basic Par's->Events per scan pointを10Mから1Mへ (時間短縮)変更。これはランダムトリガーの入射数。

スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしたい(したくない)occupancyの範囲を指定できる。

例えば occupancyが1e-5より大きいピクセルをhot pixelと定義したい場合は、トリガー数が1Mならば -1 < occupancy < 10 とすればよい。

するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成される。この二次元ヒストグラムには、occupancyが0から9のピクセルに対して1が詰まっており、10以上のピクセルに対して0が詰まっている。このヒストグラムをマスクに用いる。

STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->HITOCCを選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!

config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。

Saveをしないとマスクが保存されない。

FE-I4チップでは、ランダムトリガーを入射した際のhit occupancyの情報を用いてnoisy pixelをマスクすることができる。FE-I3用のSTcontrolにはこの機能は実装されていないのでconfig editorを用いて手動でマスク するしかない。

Threshold scanを行った際にS-curveの中心値と幅の分布だけではなく、S-curveそのものの形を見たいことがある。

DataViewer ->Loop levelを0に変更->THRESHOLD_SCANのPlot OCCUPANCYを右クリック->Plot vs scan par with fit function->OK とすると

スレッショルド値のマップとS-Curveが表示される。S-curveを見たいピクセルをマップ上でダブルクリックすればS-curveがそのピクセルのものに切り替わる。

Option->Show Panel->PixLib plotting->
SCURVE_MEAN Min0 Max5000 Enable1

SCURVE_SIGMA Min0 Max500 Enable1

のように値を変更

->Save+Close! Dataviewerを立ち上げ直すとレンジがリセットされてしまうが、変更後にOption->Save as defaultする

と、以後DataViewerを起動しなおしても同じ設定になる。