Difference: USBPixI4Instruction (4 vs. 5)

Revision 52017-01-06 - JunkiSuzuki

 
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USBPixI4 Instruction & Tips

Instruction

InstallationandSetup

SetupWithBIC (BICのregulatorを使ってLVの電源供給を行う場合)

BasicManual

SourceScan

TuningManual

Added:
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>		 ROITriggerManual
 

Tips

マスクの作成方法(noisy pixelのマスク方法)


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PixScan PanelでNOISE_OCCというスキャンを選択。Basic Par's->Events per scan pointを10Mから1Mへ (時間短縮)変更。これはランダムトリガーの入射数。

スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしたい(したくない)occupancyの範囲を指定できる。

例えば occupancyが1e-5より大きいピクセルをhot pixelと定義したい場合は、トリガー数が1Mならば -1 < occupancy < 10 とすればよい。

するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成される。この二次元ヒストグラムには、occupancyが0から9のピクセルに対して1が詰まっており、10以上のピクセルに対して0が詰まっている。このヒストグラムをマスクに用いる。

STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->HITOCCを選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!

config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。

Saveをしないとマスクが保存されない。

FE-I4チップでは、ランダムトリガーを入射した際のhit occupancyの情報を用いてnoisy pixelをマスクすることができる。FE-I3用のSTcontrolにはこの機能は実装されていないのでconfig editorを用いて手動でマスク するしかない。 


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S-curveを見る方法


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Threshold scanを行った際にS-curveの中心値と幅の分布だけではなく、S-curveそのものの形を見たいことがある。

DataViewer ->Loop levelを0に変更->THRESHOLD_SCANのPlot OCCUPANCYを右クリック->Plot vs scan par with fit function->OK とすると

スレッショルド値のマップとS-Curveが表示される。S-curveを見たいピクセルをマップ上でダブルクリックすればS-curveがそのピクセルのものに切り替わる。 


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スレッショルドのヒストグラムのレンジを変更する方法


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Option->Show Panel->PixLib plotting->
SCURVE_MEAN Min0 Max5000 Enable1

SCURVE_SIGMA Min0 Max500 Enable1

のように値を変更

->Save+Close! Dataviewerを立ち上げ直すとレンジがリセットされてしまうが、変更後にOption->Save as defaultする

と、以後DataViewerを起動しなおしても同じ設定になる。 


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Tuning FAQ

Configが通らない

以下を確認。

  • 配線は正しいか。LVは正しい電圧が印加されているか。
  • GAは正しいものを指定しているか。
  • BICの場合は使用するCHを指定しているか。
  • ワイヤーボンディングが外れていないか。
  • PCBのチップ直前のCMDラインでConfig信号がおくられているか。
それでもダメな場合
  • STControlの再起動 or PCの再起動。
  • LVケーブルを外し、LV onした後にケーブルを接続（非推奨）。
  • LVの電圧をVDDA: 1.6V, VDDD: 1.3Vへ上げる。

DIGITAL_TESTの結果がおかしい

  • 結果が真っ白なとき
    Double Column Maskを適用する。
  • DIGITAL_TESTの結果におかしなパターン（斑点のような模様）が見えるとき
    Config Editor->FE Global->Efuse Crefを15から+1/-1するといいかも。
  • 全体に乱雑に低応答のピクセルが多くあるとき
    LVケーブルやLANケーブルを抜き差しする。それでもダメなときはスレッショルドの値(Vthin_Alt_Course or Vthin_Alt_Fine)を上げる。

ANALOG_TESTの結果がおかしい

  • 全体に乱雑に低応答のピクセルが多くあるとき
    LVケーブルやLANケーブルを抜き差しする。それでもダメなときはスレッショルドの値(Vthin_Alt_Course or Vthin_Alt_Fine)を上げる。
  • 応答が低い。
    FE-I4Aの場合はAmp2Vbpfを80へ引き上げ。

THRESHOLD_SCANの結果がおかしい

  • スレッショルドが0となるとき
    S-Curveフィットができているか確認。レンジは正しいか確認。スレッショルドの設定値が低すぎると応答がなくなるときがある。この場合はスレッショルドを上げるしかない。
  • 分布が広い。
    TOTチューニングの前後で分布が広くなるか確認。TOTに引っ張られている場合、FdacVbnを小さくする（5など）。

STControl関連の問題

  • クラッシュして立ち上がらなくなった。
    新しくユーザーアカウントを作って、再インストール、userhome以下のfolder にインストールするとうまくいった。
  • Multi I/O boardを認識しない問題。
    言語の問題で、svnのフォルダにあるはずのdriverがダウンロードされない。svnから自分でディレクトリを作って、ファイルをダウンロード。デバイスマネージャーから、「その他のデバイス」にあるUSB コントローラーのドライバホルダーに/USBpixI4/driverを指定すると、USBを認識して動いた。

FE-I4B Tuning

-- Daiki Yamaguchi - 2014-10-15

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