Magnetic Field Test at KEK目的Ni/In バンプボンディングの磁場耐性の確認クオリティーの安定性に少し不安のあるSnAg bump-bondingの代わりとして、Ni/In bump-bondingを開発中。 Ni/Inはクオリティーが安定していて温度サイクルにも強いが、Niが強磁性体であることを考えると、ATLASの磁場中にインストールした際にバンプが剥がれることが考えらえる。 そこで、バンプの磁場耐性試験を行う。Pixel 検出器の磁場中での性能評価磁場中で安定して動作するかを検出効率やローレンツ角の測定を行い評価する。Muon 崩壊の観測準備 ( log)マグネットについて使用申請と低温セミナーMRIマグネットシンチレータとMPPCを用いたトリガーシステム磁場中での使用を考慮し、光電子増倍管を使わないMPPC+Scintillatorのトリガーシステムを作成(by 原先生) トリガーシステムの大きさ、回路については MPPCtrigger.pptxを参照回路部変更点トリガー信号の幅が狭くてMulti I/O boardで信号を受け取ってくれなかったため、回路を変更(UA733 3-12→4-11 赤文字部) この部分を変更することで、信号が大きくなり、Thresholdを設定したときに広い信号を出力できる。![]() Threshold設定電圧Thresholdの設定電圧まとめ。オシロスコープで信号を見ながら、noiseを拾わないぐらいの電圧を設定した。 Scintillatorを上にしたときの左をLeft、右をRightにしている (MPPCのところを見れる時があったら測定しなおしてアップデートお願いしますm(__)m by kazuyukis)
Trigger Logic Unit の開発
磁場耐性試験用の架台とスキャナーステージの開発スキャナステージの操作用ソフトとして、GUIのものとバックアップ用としてTera Term(フリーフェア)を用意。 後者のソフトの場合、ある文字列(コマンド)を送信すると、コントロラーがそれを認知しドライバがモータに信号を送る。 コントローラの仕様の詳細は コマンド例![]() ![]() | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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< < | 今走らせている無限(とみなせる)ループの終了 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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< < | プログラムを強制終了して、ステージがモータに近いところで、コンセントを抜いてください | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ステージの基本
ステージの使い方(GUI編)自動制御
手動制御
トラブルと対策
注意事項
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> > | cosmicセットアップ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Ni/In バンプのReal 4-chip-cards2015/10/9に届いた4chip module×4のbefore-parylene & beforeTCのtuning & source scan結果→ KEK101-104.pptx どのモジュールもバンプオープンはなかった。 before-parylene & beforeTCのtuning & source scan結果→ KEK101-104_1.pptx KEK101にバンプオープン有り。Run Summary
Latency Scanデータ取得用のセットアップ→SCC(KEK80)を使って、MPPC triggerの動作確認→順調に動いてそう(富士B2でのセットアップ復元) 磁場耐性試験については順調に動作中(月曜日の朝までこのままの予定) latency checkを行った、defaultではlatencyが大きすぎたため。(Spartanでの処理の時間のためだと思われる) SOURCE SCAN/Basic Par`s/latencyの所の値を変更→小さくすると後ろにいく latency単位:クロック数(1クロック=25nsec)
Pre-analysisKEK102,KEk103を重ねて、trigger信号として upper trigger system & lower trigger system & ~(module busy or)でデータ取得を行った。 4chip moduleでの解析方法とext.triggerがちゃんと動作しているかの確認を行った。 解析について
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