
SensorTelescopeDouble Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144センサーの位置関係性
Tuning & Scan-> Tuning & ScanIntegration Test
ROIROI trigger module->KEK104(integration test)tuning(別にしなくてもいい?) >>>>> よく分かるUSBpixの使い方<<<<< tuningが終わったら analog scan->make Mask->NOISE OCC->make Mask->(繰り返し) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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PixScan PanelでANALOG_SCANを選択。
スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしない範囲が指定できる。(例:190 < OCCUPANCY <210と指定すると、この範囲以外のピクセルがマスクされる)
するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成されるので、STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!
config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。ENABLE mapとILEAK mapの0,1は反転していなければいけない。
Saveをしないとマスクが保存されないので注意!
NOISE_OCC scanも同様の手順でmaskできる。
<--/twistyPlugin-->ノイズが1kHz以下になるまで繰り返す ROI
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SensorTelescopeDouble Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144センサーの位置関係性
Tuning & Scan-> Tuning & ScanIntegration Test
ROIROI trigger module->KEK104(integration test)tuning(別にしなくてもいい?) >>>>> よく分かるUSBpixの使い方<<<<< tuningが終わったら analog scan->make Mask->NOISE OCC->make Mask->(繰り返し)<--/twistyPlugin twikiMakeVisibleInline-->
PixScan PanelでANALOG_SCANを選択。
スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしない範囲が指定できる。(例:190 < OCCUPANCY <210と指定すると、この範囲以外のピクセルがマスクされる)
するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成されるので、STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!
config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。ENABLE mapとILEAK mapの0,1は反転していなければいけない。
Saveをしないとマスクが保存されないので注意!
NOISE_OCC scanも同様の手順でmaskできる。
<--/twistyPlugin-->ノイズが1kHz以下になるまで繰り返す ROI
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| < < | 2/2現在、ROI信号の大きさが100mV程度しかないのでSeabasTLUに入力する前にLevel Shifterをかませて3.3VのCMOS信号に変換する | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | ROI信号の大きさが100mV程度なので、MPPC基板を用いたLevel shifterでNIM信号に変換する | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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SensorTelescopeDouble Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144センサーの位置関係性
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| PixScan PanelでANALOG_SCANを選択。 スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしない範囲が指定できる。(例:190 < OCCUPANCY <210と指定すると、この範囲以外のピクセルがマスクされる) するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成されるので、STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK! config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。ENABLE mapとILEAK mapの0,1は反転していなければいけない。 Saveをしないとマスクが保存されないので注意! NOISE_OCC scanも同様の手順でmaskできる。 | ||||||||
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ノイズが1kHz以下になるまで繰り返す
ROI
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| > > | 2/2現在、ROI信号の大きさが100mV程度しかないのでSeabasTLUに入力する前にLevel Shifterをかませて3.3VのCMOS信号に変換する | |||||||
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SensorTelescopeDouble Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144センサーの位置関係性
Tuning & Scan-> Tuning & ScanIntegration Test | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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ROIROI trigger module->KEK104(integration test)tuning(別にしなくてもいい?) >>>>> よく分かるUSBpixの使い方<<<<< tuningが終わったら analog scan->make Mask->NOISE OCC->make Mask->(繰り返し)<--/twistyPlugin twikiMakeVisibleInline-->
PixScan PanelでANALOG_SCANを選択。
スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしない範囲が指定できる。(例:190 < OCCUPANCY <210と指定すると、この範囲以外のピクセルがマスクされる)
するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成されるので、STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!
config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。ENABLE mapとILEAK mapの0,1は反転していなければいけない。
Saveをしないとマスクが保存されないので注意!
NOISE_OCC scanも同様の手順でmaskできる。
<--/twistyPlugin-->ノイズが1kHz以下になるまで繰り返す ROI
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| < < | FFE_ST_SOURCE_SCANを行い、ROI信号が出ればOK! | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | FE_ST_SOURCE_SCANを行い、ROI信号が出ればOK! | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| > > | Sensor | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| > > | Telescope | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Double Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| > > | センサーの位置関係性 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | センサーの位置関係性 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
![]() | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | Tuning & Scan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | Tuning & Scan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| -> Tuning & Scan | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | Integration Test | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | Integration Test | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| > > | ROIROI trigger module->KEK104(integration test)tuning(別にしなくてもいい?) >>>>> よく分かるUSBpixの使い方<<<<< tuningが終わったら analog scan->make Mask->NOISE OCC->make Mask->(繰り返し)<--/twistyPlugin twikiMakeVisibleInline-->
PixScan PanelでANALOG_SCANを選択。
スキャンが終わったらData ViewerでNOISE_OCCをtransferしPlot OCCUPANCYを右クリック->Generate mask from histogramとするとマスクしない範囲が指定できる。(例:190 < OCCUPANCY <210と指定すると、この範囲以外のピクセルがマスクされる)
するとPlot HITOCCというマスク用ヒストグラムが生成されるので、STcontrolのEdit->set all masks from scan->先ほどのヒストグラムが入ったrootファイルを指定 ->スキャン名を選択->Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK!
config editor->FE MAsks, Pixel->ENABLE mapの上で右クリック->Display/Edit->Save (1と0が反転していたらENABLE map->Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。ENABLE mapとILEAK mapの0,1は反転していなければいけない。
Saveをしないとマスクが保存されないので注意!
NOISE_OCC scanも同様の手順でmaskできる。
<--/twistyPlugin-->ノイズが1kHz以下になるまで繰り返す ROI
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Double Flex | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Double Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144
センサーの位置関係性![]() | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | Source Scan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | Tuning & Scan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | Source Scanは全て90Srを用いてバイアス-50Vで30秒間測定 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| > > | -> Tuning & Scan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| > > | Integration Test
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| < < | モジュール過熱防止のため恒温槽-15℃内に設置
KEK132
Noise2dKEK132
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| Double Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144 | |||||||||||||||||||||||||||||
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| < < | ・Source Scan | ||||||||||||||||||||||||||||
| > > | センサーの位置関係性 | ||||||||||||||||||||||||||||
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Source ScanSource Scanは全て90Srを用いてバイアス-50Vで30秒間測定 モジュール過熱防止のため恒温槽-15℃内に設置 | ||||||||||||||||||||||||||||
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Double FlexDouble Flex for FNAL telescope -->KEK132, KEK133, KEK134, KEK141, KEK142, KEK144 ・Source Scan KEK132
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