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Katsuya Sato - 2020-11-12
Documentation
筑波大ゼミ
Memo & Log
Introduction
従来のRD53Aには性能評価のために3つのフロントエンド(Synchronous, Linear, Differential)があり,ATLASグループではDifferential FEを使うことが決定した(CMSではLinear FE).
RD53B でATLASグループが使うITkPixV1は,全てDifferential FEで構成されている50um×50umピッチの384x400ピクセル状のバンプパッドのあるASIC.
Issue
2020/11/13現在
Digital回路にバグあり.
ToT のBit Flipが発生し,bitが反転する場合がある.
- ToT: 7,11,13などのentryが異常に少ない原因
- ToT:7=0111-->1111=ToT:0など
- 1010-->1110などもある
Preparation
Firmware
RD53Aと同じFirmwareで動作可能.
(2020/11/13現在 ohio_4x4_640Mbps versionのdevel branch)
Software
RD53Aと同じSoftwareで動作可能だが,branchを変える必要がある.
$ git checkout rd53b_devel
$ git branch //branchが変更されているか確認
Hardware
LV
Digital Circuit
- apply 1.7V
- set compliance: 4.0A for bug
- 1.6A@before passing config
- up to 3.0A the current increases
- fainal current: 0.7A.
Analog Circuit
- apply 1.65V
- set compliance: 1.5A
- first current: 0.12A
Config File
ASIC Config
Diff [Preamp, Th1, Th2]
- L,M,Rの3つのパターンが存在.
- Quad SensorのASIC境界部の特殊ピクセル(column399-400)のため
- L: Left lane ASICs
- M: Middle area. Inner ASIC pixels.
- R: Right lane ASICs
DiffVff
- feedback currentを制御
- DiffVff を下げると,ToTの分布は広がり大きくなる.
Connectivity Config
Controller Config
Scan
standard mode(std_*scan)とprecision
ToT mode(ptot_*scan)がある.
Precision
ToT Mode
- Time of arrivalとToTの情報が16bitに含まれている.
- 内ToTは10bitを占める.
2020/11/12 現在
Scanの仕方は,基本的にRD53Aの場合と同じ.rd53a-->rd53bに変-更する.
$ ./bin/scanConsole -r configs/controller/specCfg-rd53b.json -c configs/connectivity/example_rd53b_setup.json -s configs/scans/rd53b/SCAN.json [OPTION]
Digital Scan
$ ./bin/scanConsole -r configs/controller/specCfg-rd53b.json -c configs/connectivity/example_rd53b_setup.json -s configs/scans/rd53b/std_digitalscan.json -p -m 0
defaultでは,10keのtest pulseをinjectionした際のToTを読み出す.