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 Katsuya Sato  - 2020-11-12 
  
 Documentation 
筑波大ゼミ
 Memo & Log 
  
 Introduction 
従来のRD53Aには性能評価のために3つのフロントエンド(Synchronous, Linear, Differential)があり,ATLASグループではDifferential FEを使うことが決定した(CMSではLinear FE).
RD53B でATLASグループが使うITkPixV1は,全てDifferential FEで構成されている50um×50umピッチの384x400ピクセル状のバンプパッドのあるASIC.
 Issue 
 2020/11/13現在 
Digital回路にバグあり. 
 
ToT のBit Flipが発生し,bitが反転する場合がある. 
-  ToT: 7,11,13などのentryが異常に少ない原因
  -  ToT:7=0111-->1111=ToT:0など
  -  1010-->1110などもある
 
 
 Preparation 
 Firmware 
RD53Aと同じFirmwareで動作可能.
(2020/11/13現在 ohio_4x4_640Mbps versionのdevel branch)
 Software 
RD53Aと同じSoftwareで動作可能だが,branchを変える必要がある.
$ git checkout rd53b_devel
$ git branch //branchが変更されているか確認
 Hardware 
 LV 
Digital Circuit 
-  apply 1.7V
  -  set compliance: 4.0A for bug
  -  1.6A@before passing config
  -  up to 3.0A the current increases  
  -  fainal current: 0.7A.
 
 
Analog Circuit 
-  apply 1.65V
  -  set compliance: 1.5A
  -  first current: 0.12A
 
 
 Config File 
 ASIC Config 
Diff [Preamp, Th1, Th2] 
-  L,M,Rの3つのパターンが存在.
  -  Quad SensorのASIC境界部の特殊ピクセル(column399-400)のため
  -  L: Left lane ASICs
  -  M: Middle area. Inner ASIC pixels.
  -  R: Right lane ASICs
 
 
DiffVff 
-  feedback currentを制御
  -  DiffVff を下げると,ToTの分布は広がり大きくなる.
 
 
 Connectivity Config 
 Controller Config 
 Scan 
standard mode(std_*scan)とprecision 
ToT mode(ptot_*scan)がある.
Precision 
ToT Mode 
-  Time of arrivalとToTの情報が16bitに含まれている.
  -  内ToTは10bitを占める.
 
 
 2020/11/12 現在 
Scanの仕方は,基本的にRD53Aの場合と同じ.rd53a-->rd53bに変-更する.
$ ./bin/scanConsole -r configs/controller/specCfg-rd53b.json -c configs/connectivity/example_rd53b_setup.json -s configs/scans/rd53b/SCAN.json [OPTION]
 Digital Scan 
$ ./bin/scanConsole -r configs/controller/specCfg-rd53b.json -c configs/connectivity/example_rd53b_setup.json -s configs/scans/rd53b/std_digitalscan.json -p -m 0
defaultでは,10keのtest pulseをinjectionした際のToTを読み出す.