Difference: SourceScan (1 vs. 2)

Revision 22015-04-04 - AtlasjSilicon

 
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Source Scan

ここではバンプオープンなどを知るのに有用なソーススキャンの方法について述べる。

ソーススキャンにはR/O chipの内部トリガーを使うFE_ST_SOURCE_SCANと外部トリガーを用いるがある。

内部トリガーを用いる場合(FE_ST_SOURCE_SCAN)

下準備

FE_ST_SOURCE_SCANを使用する場合、DIGITAL_TESTで応答が0となるピクセルを読み出そうとするとセルフトリガーを発行することができない。

そのため、DIGITAL_TESTを行って応答の無いピクセルをマスクする必要がある。

Added:
>
>
  1. [Right Panel] -> PixScan panel
  2. [Selected std. configuration:] -> DIGITAL_TEST -> Start Scan
  3. [Right Panel] -> Data panel -> Plot Occupancy を右クリック -> Generate mask from histogram
  4. マスクしない範囲を指定（例 190 < OCCUPANCY < 210 と指定すると、この範囲以外のピクセルをマスクする）
  5. [Edit] -> set all masks from scan -> 出力ファイルを指定 -> スキャン名を選択 -> HITOCCを選択 -> Apply to ENABLE & ILEAKにチェックを入れ、OK
  6. config editor -> FE MAsks, Pixel -> ENABLE mapの上で右クリック -> Display/Edit -> Save (1と0が反転していたらENABLE map -> Invert)。ILEAK mapも同様にしてSaveする。
 
FE_ST_SOURCE_SCAN
Added:
>
>
  1. [Right Panel] -> PixScan panel
  2. [Selected std. configuration] -> FE_ST_SOURCE_SCAN
  3. [Basic Pars] -> Events per scan point に取得したいイベント数を記入
  4. Start Scan
  5. [Right Panel] -> Data panel -> Plot Occupancy
放射線照射後のセンサーの場合、Start Scanを押した後でもEvent rateが増えない場合がある。
 
Added:
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>		これはDIGITAL_TESTで応答が無いピクセルが変動しているためと考えられる。従って、繰り返しDIGITAL_TESTでmaskをするとEvent rateが増えることが多い。
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Changed:
<
<		-- Daiki Yamaguchi - 2015-04-03
>
>		-- Daiki Yamaguchi - 2015-04-04
 

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Revision 12015-04-03 - AtlasjSilicon

 
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Source Scan

ここではバンプオープンなどを知るのに有用なソーススキャンの方法について述べる。

ソーススキャンにはR/O chipの内部トリガーを使うFE_ST_SOURCE_SCANと外部トリガーを用いるがある。

内部トリガーを用いる場合(FE_ST_SOURCE_SCAN)

下準備

FE_ST_SOURCE_SCANを使用する場合、DIGITAL_TESTで応答が0となるピクセルを読み出そうとするとセルフトリガーを発行することができない。

そのため、DIGITAL_TESTを行って応答の無いピクセルをマスクする必要がある。

FE_ST_SOURCE_SCAN

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-- Daiki Yamaguchi - 2015-04-03

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