MeasurementLog202012--![]() 12/2-12/3FNAL16chボードの実装 リンギングはなし コネクタは自前で作る必要がある(4PinMolex&Lemo)12/4FNAL4chの電圧降下について PADセンサーの上側が壊れている→カレントが常に上がり続ける →電圧降下が生じ、バイアス電圧が逆転する。(HVを上げても信号が小さくなる) 短期間で信号をみると、HVを上げるほど信号は大きくなることは確認できた 時間分解能測定には1時間かかるため、その間に電流が上昇して、信号が落ちてきていたと思われる12/8時間分解能測定 FNAL4ch→センサー付け替えて再測定 上下1chずつしか読み出せない12/9FNAL4chボード PADセンサーの時間分解能再測定 160V,170V,175V,180V,185V 上2ch、下1chの読み出し12/10StripセンサーのAL電極幅測定 実測値→ 46 μm、41 μm、36 μm、31 μmą0.5 μm12/151e14(C-2、PAD)->2枚目のFNALボードに乗せる 1e15(C-2、PAD)-> 1枚目のFNALボードに乗せる IV測定 -20℃ 1e14の信号の確認(270V→300V)12/161e15のIV測定→センサー壊れる→取り直し | ||||||||
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< < | 1e15 mounted on 1st Fermi Amp(1ch,2ch,15ch,16ch) | |||||||
> > | 1e15 mounted on 1st Fermi Amp(1ch,2ch,15ch,16ch) | |||||||
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< < | 1e14 mounted on 2nd Fermi Amp(1ch,2ch,15ch,16ch) | |||||||
> > | 1e14 mounted on 2nd Fermi Amp(1ch,2ch,15ch,16ch) | |||||||
2つ目のセンサー→信号が確認できない 1e14の時間分解能測定 ・IV測定 ・ | ||||||||
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12/23今まで使用していたFNALボードC2Stripセンサーのwireを外して同じセンサーでUPのみを測定(前回の測定は10/21) IV測定2回(前回同様の振る舞いを示したので良好) →180V、恒温槽20度でソーステスト | |||||||
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