Difference: ITkStripQC (1 vs. 11)

Revision 112022-02-07 - ShigekiHirose

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 ITk strip sensor QC 

--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12 
 Strip sensor QCについて 

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。 

 Human visual inspection 
 すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
 
  Machine visual capture and inspection 
 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
 
  IV & CV measurement 
 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
 
  Metrology 
 Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
 
  Full strip test（全サンプルの5%） 
 ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
 
  Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
 

プレプロダクション・プロダクションのデータはすべてKEKにあるストレージに保存され、atlaspc7からアクセスできる。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。 

 セグメント番号・ストリップ番号について 
 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）はすべてATLAS定義と同じ。
  セグメント番号は、DC測定の生データ（.csv）は全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
  ストリップ番号は、AC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の0に対応。DC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の1に対応（ATLAS定義は、field-shaping stripsを含めて0から1281を振っている）
 
  AC測定について 
 VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。 
 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
 
 
  DC測定について 
 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。
 
 
 センサーのセグメント番号、ストリップ番号 

ここを参照。
 データのアップロード 

ここにまとめました。→ http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/25
 参考資料 
 
 ATLAS-J-ITk 
 K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
  K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
  K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
  S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
- META TOPICPARENT
+ name="WebHome"
-<
<
+ Draft of QC document KEK-HPK
->
>
+ ITk strip sensor PRR: Japan QC report
->
>
+ KEK/Tsukuba QC site qualification document
  Data structures for ITk Strip detector QC tests (DB用データフォーマットの定義)
  Sensor Quality Control Specification (Sensor QCの要求など)
 
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Revision 102022-02-02 - ShigekiHirose

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ITk strip sensor QC

-- Shigeki Hirose - 2020-11-12

Strip sensor QCについて

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。

Human visual inspection
- すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
Machine visual capture and inspection
- 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
IV & CV measurement
- 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
Metrology
- Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
Full strip test（全サンプルの5%）
- ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)

Changed:

<
<

プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。

>
>

プレプロダクション・プロダクションのデータはすべてKEKにあるストレージに保存され、atlaspc7からアクセスできる。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。

セグメント番号・ストリップ番号について
- 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）はすべてATLAS定義と同じ。
- セグメント番号は、DC測定の生データ（.csv）は全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
- ストリップ番号は、AC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の0に対応。DC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の1に対応（ATLAS定義は、field-shaping stripsを含めて0から1281を振っている）
AC測定について
- VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。
  - 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  - 静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
DC測定について
- 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。

Added:

>
>

センサーのセグメント番号、ストリップ番号

ここを参照。

データのアップロード

ここにまとめました。→ http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/25

参考資料

ATLAS-J-ITk
- K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
- K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
- K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
- K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
- S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
Draft of QC document KEK-HPK
Data structures for ITk Strip detector QC tests (DB用データフォーマットの定義)
Sensor Quality Control Specification (Sensor QCの要求など)

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Revision 92021-10-04 - ShigekiHirose

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ITk strip sensor QC

-- Shigeki Hirose - 2020-11-12

Strip sensor QCについて

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。

Human visual inspection
- すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
Machine visual capture and inspection
- 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
IV & CV measurement
- 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
Metrology
- Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
Full strip test（全サンプルの5%）
- ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)

セグメント番号・ストリップ番号について
- 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）はすべてATLAS定義と同じ。
- セグメント番号は、DC測定の生データ（.csv）は全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
- ストリップ番号は、AC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の0に対応。DC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の1に対応（ATLAS定義は、field-shaping stripsを含めて0から1281を振っている）
AC測定について
- VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。
  - 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  - 静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
DC測定について
- 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。

Added:

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>

データのアップロード

ここにまとめました。→ http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/25

参考資料

ATLAS-J-ITk
- K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
- K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
- K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
- K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
- S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
Draft of QC document KEK-HPK
Data structures for ITk Strip detector QC tests (DB用データフォーマットの定義)
Sensor Quality Control Specification (Sensor QCの要求など)

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Revision 82021-01-25 - ShigekiHirose

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 ITk strip sensor QC
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+--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12
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+--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12
  Strip sensor QCについて 

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。 

 Human visual inspection 
 すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
 
  Machine visual capture and inspection 
 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
 
  IV & CV measurement 
 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
 
  Metrology 
 Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
 
  Full strip test（全サンプルの5%） 
 ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
 
  Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
 

プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。 

 セグメント番号・ストリップ番号について 
 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）はすべてATLAS定義と同じ。
  セグメント番号は、DC測定の生データ（.csv）は全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
  ストリップ番号は、AC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の0に対応。DC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の1に対応（ATLAS定義は、field-shaping stripsを含めて0から1281を振っている）
 
  AC測定について 
 VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。 
 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
 
 
  DC測定について 
 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。
 
 
 参考資料 
 
 ATLAS-J-ITk 
 K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
  K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
  K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
  S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
 
  Draft of QC document KEK-HPK
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+ Data structures for ITk Strip detector QC tests (DB用データフォーマットの定義)
  Sensor Quality Control Specification (Sensor QCの要求など)
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Revision 72020-12-03 - ShigekiHirose

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 ITk strip sensor QC
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+--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12
  Strip sensor QCについて 

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。 

 Human visual inspection 
 すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
 
  Machine visual capture and inspection 
 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
 
  IV & CV measurement 
 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
 
  Metrology 
 Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
 
  Full strip test（全サンプルの5%） 
 ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
 
  Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
 

プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。 

 セグメント番号・ストリップ番号について
-<
<
+ 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
  AC・DC測定の生データ（.csv）はすべて1始まり
  セグメント番号は、DC測定の生データは全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
->
>
+ 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）はすべてATLAS定義と同じ。
  セグメント番号は、DC測定の生データ（.csv）は全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
  ストリップ番号は、AC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の0に対応。DC測定の生データは1番目のストリップがATLAS定義の1に対応（ATLAS定義は、field-shaping stripsを含めて0から1281を振っている）
  AC測定について 
 VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。 
 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
 
 
  DC測定について 
 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。
 
 
 参考資料 
 
 ATLAS-J-ITk 
 K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
  K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
  K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
  S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
 
  Draft of QC document KEK-HPK
 
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Revision 62020-11-18 - ShigekiHirose

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ITk strip sensor QC

-- Shigeki Hirose - 2020-11-12

Strip sensor QCについて

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。

Human visual inspection
- すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
Machine visual capture and inspection
- 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
IV & CV measurement
- 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
Metrology
- Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
Full strip test（全サンプルの5%）
- ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)

セグメント番号・ストリップ番号について
- 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
- AC・DC測定の生データ（.csv）はすべて1始まり
- セグメント番号は、DC測定の生データは全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
AC測定について

Changed:

<
<

- VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。

>
>

- VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚（20USBSL0000034）は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。

- - 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  - 静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
DC測定について
- 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。

参考資料

ATLAS-J-ITk
- K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
- K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
- K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
- K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
- S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
Draft of QC document KEK-HPK

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Revision 52020-11-16 - ShigekiHirose

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ITk strip sensor QC

-- Shigeki Hirose - 2020-11-12

Strip sensor QCについて

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。

Human visual inspection
- すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
Machine visual capture and inspection
- 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
IV & CV measurement
- 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
Metrology
- Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
Full strip test（全サンプルの5%）
- ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)

セグメント番号・ストリップ番号について
- 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
- AC・DC測定の生データ（.csv）はすべて1始まり

Changed:

<
<

- セグメント番号は？？？

>
>

- セグメント番号は、DC測定の生データは全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい

AC測定について

Added:

>
>

- VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。
  - 電流データ：測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している（tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない）。
  - 静電容量データ：-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
DC測定について
- 測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。

参考資料

ATLAS-J-ITk
- K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
- K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
- K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
- K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
- S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
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Revision 42020-11-16 - ShigekiHirose

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 ITk strip sensor QC 

--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12 
 Strip sensor QCについて 

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。 

 Human visual inspection 
 すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
 
  Machine visual capture and inspection 
 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
 
  IV & CV measurement 
 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
 
  Metrology 
 Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
 
  Full strip test（全サンプルの5%） 
 ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
 
  Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
 

プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。 

 セグメント番号・ストリップ番号について 
 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
  AC・DC測定の生データ（.csv）はすべて1始まり
  セグメント番号は？？？
 
  AC測定について
 
 参考資料
- META TOPICPARENT
+ name="WebHome"
-<
<
+ K. Saito, ATLAS-J ITk meeting on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura, ATLAS-J ITk meeting on 28th May (DCAC測定について)
->
>
+ ATLAS-J-ITk 
 K. Nakamura on 1st April (プリプロダクションまとめとQC状況)
->
>
+ K. Saito on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura on 28th May (DCAC測定について)
  K. Saito on 8th October (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
  S. Hirose on 22nd October (QCQAのスケジュール)
  Draft of QC document KEK-HPK
 
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Revision 32020-11-13 - ShigekiHirose

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<
+ ITk strip QC
->
>
+ ITk strip sensor QC
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+--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12
->
>
+--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12
->
>
+ Strip sensor QCについて 

QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。 

 Human visual inspection 
 すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
 
  Machine visual capture and inspection 
 自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
 
  IV & CV measurement 
 温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
 
  Metrology 
 Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
 
  Full strip test（全サンプルの5%） 
 ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。（それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる）
 
  Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
 

プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。 

 セグメント番号・ストリップ番号について 
 最終データシート（測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt）のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
  AC・DC測定の生データ（.csv）はすべて1始まり
  セグメント番号は？？？
 
  AC測定について
  参考資料 
 
 K. Saito, ATLAS-J ITk meeting on 21st May (DCAC測定について)
  K. Nakamura, ATLAS-J ITk meeting on 28th May (DCAC測定について)
  Draft of QC document KEK-HPK
 
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Revision 22020-11-13 - ShigekiHirose

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 ITk strip QC 

--   Shigeki Hirose  - 2020-11-12 
 参考資料
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+ K. Nakamura, ATLAS-J ITk meeting on 28th May
->
>
+ K. Saito, ATLAS-J ITk meeting on 21st May (DCAC測定について)
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+ K. Nakamura, ATLAS-J ITk meeting on 28th May (DCAC測定について)
  Draft of QC document KEK-HPK
 
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Revision 12020-11-12 - ShigekiHirose

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ITk strip QC

-- Shigeki Hirose - 2020-11-12

参考資料

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