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---+ ITk strip QA Under construction. -- <span data-mce-mark="1">%USERSIG{ShigekiHirose - 2020-08-19}%</span> ---++ QAシステム概要 TestChip+MD8(Halfmoon)で測定する8項目の測定ができるシステムです。 具体的な項目 バイアス抵抗、カップリング容量、ストリップ間抵抗、ストリップ間容量、PTP作動、カップリングの暗電流、酸化膜容量、MD8のIVCV測定 すべての測定には最低でもPC、LCRメーター2台、ソースメーター2台、スイッチ操作装置(TUSB-PIO)、Raspiを用いた温度計システムと測定サンプルを装着する基盤が必要です。 To be written. ---++ 測定方法 測定開始前にすること LCRメーターのcalibration サンプル以外のセットアップをすべてつなげた状態で、calibration用の基盤を設置します。 LCRメーターのMENUにあるMEAS SETUPボタンを押し、画面に表示されるCORRECTIONに対応するボタンを押します。 カーソルをOPEN/SHORT(自分が設置した基板の種類)にあわせ、MEAS OPEN/SHORTを押すとcalibrationが始まります。 LCRメーター2台とも、OPEN、SHORT2種類のcalibrationを行ってください。 calibrationが終わったら、測定したいサンプルを取り付けてください。 デスクトップにあるショートカット「StripQA」をダブルクリックし、ソリューションを開きます。 画面中央上にある「Local Windows Debugger」をクリックし、GUIを実行します。 最初の画面でLCRメーターとソースメーターの選択画面が表示されるので、使用する機械を選択(Setを緑に)したのち、StripQAをクリックします。 General Settingsで、測定するサンプルのBatchNo.(VPXを除いた数字5桁)を記入してください。 OperatorName,RunNo.を記入した後、SETをクリックしてください。 以下のスプレッドシートを開き、WaferNo.やSerialNo.が正しいものになっているかを確認してください。 <span data-mce-mark="1">https://docs.google.com/spreadsheets/d/1mlUcnUTPKlGmD6PUIn9hh5Zky5EJmUY1wDjHUVpYtlU/edit#gid=0</span> 間違っていたり、うまく表示されない場合は、手入力で変更してください。 もしRunNo.に重複がある場合、自動でファイル名を変更し、重複を回避するようになっています。 各測定の測定中にDataFilePathボタンを押すと、現在測定中のデータのファイル名が表示されます。 解析やログの記録の際に活用してください。 ここまで出来たら各測定に進めます。 * バイアス抵抗 デフォルトでは-5~5Vまでを0.5Vステップで測定しています。 測定可能な抵抗3つすべての電流値が記録されます。 * カップリング容量 1kHzでの静電容量と複素インピーダンスの絶対値が記録されます。 この測定はGUI上で測定周波数を変更することができません。 * ストリップ間抵抗 照射前後でバイアス抵抗が異なります。 照射前は-150V 照射後は-500V 測定範囲はどちらも-5~5Vを0.1Vステップで測定します。 測定するサンプルの特性に合わせてパラメーターを(ボタンで)変更してください。 * ストリップ間容量 照射前後でバイアス抵抗が異なります。 照射前は-150V 照射後は-500V 測定は、100kHzでの静電容量を測り、静電容量と複素インピーダンスの絶対値が記録されます。 測定するサンプルの特性に合わせてパラメーターを(ボタンで)変更してください。 * PTP 照射前後でバイアス抵抗が異なります。 照射前は-150V 照射後は-500V 測定範囲はどちらも0~-40Vを0.2Vステップで測定します。 この先の測定をする場合は、別の基盤に付け替える必要があります 別の基板に付け替えたら、再度Calibrationを行いましょう。 Calibrationの前に、Local Windows Debuggerを押して最初に出てくるGUIにあるTUSB Formのボタンをクリックし、スイッチ操作用GUIを起動してください。 GUIでDev_Open、(PortA をOutputにしてDirectionSet)をクリックし、PortAのスイッチがすべてOnになっていること(数字の横の赤いランプが光ること)を確認します。 最初と同じ方法でCalibrationをしてください。 * カップリングの暗電流 二枚目の基板、LEMO0にTestVからつながるケーブルがつながっていることを確認してください。 0~10Vまでは0.5Vステップ、0~100Vまで5Vステップで、カップリング部に電圧をかけたときの暗電流を測定します。 * 酸化膜容量 二枚目の基板、MOS HVにTestVからつながるケーブルがつながっていることを確認してください。 照射前後で測定が異なります 照射前 周波数10kHz、測定範囲-60~0V、0.1Vステップ γ線照射後 周波数100kHz、測定範囲-60~0V、0.1Vステップ 陽子照射後は測定しない予定です。 どちらも静電容量と複素インピーダンスの絶対値が記録されます。 サンプルの特性に合わせてパラメーターを変更してください。 * MD8のIVCV 二枚目の基板、MOS HVにTestVからつながるケーブルがつながっていることを確認してください。 0~-500Vを10Vステップで測定します。 電流、静電容量、複素インピーダンスの絶対値が記録されます。 ---++ 温湿度計について 温湿度計のテクニカルな詳細はこちら→ [[Raspberrypi][温湿度計 on Raspberry Pi]] Strip test chip QAで使っているものはラズベリーパイ(130.87.242.194)に接続されている。atlasjユーザー(パスワードは誰かに聞いてください)でログインし、~/work/stripQAにあるthermohydrometer.pyというPythonスクリプトで温湿度を読み出せる。このスクリプトは温湿度を記録・表示し続けると同時に、/var/samba/trh以下に最新の測定結果をtemp.datとして保存する。/var/sambaはWindows(130.87.243.248)のデスクトップにあるsharedというフォルダーと共有されているため、最新の温湿度をWindows側から読み出せる。 設定方法は以下の通り。 [Windows側] 1. 共有フォルダ―を作る。例えばsharedというフォルダーを作り、右クリック→プロパティから共有設定をする。参考→ <span data-mce-mark="1">https://pc-karuma.net/windows-10-share-files-folders/</span> ネットワークとかの設定をしなきゃダメかも(色々試行錯誤したので、どれが必要でどれが必要じゃなかったのかわかりません。。。) 共有に成功していると、File Explorer → Network → 自分のPCを選択(130.87.243.248の場合はDESKTOP-KCK793P)で共有フォルダ―が見えているはず。 [ラズパイ側] 1. Sambaをインストールする <verbatim>$ sudo apt update $ sudo apt install samba $ sudo apt install winbind $ sudo apt install libnss-winbind $ sudo apt install samba-client</verbatim> 2. smbuserというユーザーを作り、共有フォルダ―へのアクセスを許可する。 <verbatim>$ sudo useradd smbuser $ sudo chown smbuser:smbuser /var/samba/ $ sudo pdbedit -a smbuser</verbatim> 3. /etc/samba/smb.confに以下を書き込む。 <verbatim>[share] comment = Share Folder browseable = yes path = /var/samba writable = yes valid users = smbuser force user = smbuser</verbatim> 書き込んだら、sudo /etc/init.d/samba restartでサービスをrestartする。 4. 共有フォルダーをマウントする。 <verbatim>sudo mount.cifs //130.87.243.248/shared /var/samba/ -o user=smbuser</verbatim> IPの直後の"shared"は、先ほどWindowsマシンでつくった共有フォルダーの名前になる。 ---++ 測定ログ 8月 (QAMeasurementLog202008) ---++ マニュアルなど * ソースメーター * Keythley Model 2410 1100 V SourceMeter * Datasheet: <span data-mce-mark="1">https://www.tek.com/document/specification/models-2410-and-2410-c-sourcemeter-specifications-rev-d</span> * Manual: <span data-mce-mark="1">https://download.tek.com/manual/2410_902_01B.pdf</span> * Keythley Model 486 Pico Ammeter * Manual: <span data-mce-mark="1">https://bee.mif.pg.gda.pl/ciasteczkowypotwor/Keithley/KEI%20486,%20487%20Instruction.pdf</span> * Keythley Model 6517A Electrometer/High Resistance Meter * Datasheet: <span data-mce-mark="1">http://www.testequipmenthq.com/datasheets/KEITHLEY-6517A-Datasheet.pdf</span> * Manual: <span data-mce-mark="1">https://www.tek.com/manual/model-6517a-electrometer-high-resistance-meter-getting-started-manual-rev-b</span> * Keithley エラーメッセージマニュアル * <span data-mce-mark="1">http://ena.support.keysight.com/e5071c/manuals/webhelp/jpn/product_information/error_messages/error_messages.htm</span> * LCRメーター * Agilent 4284A Precision LCR Meter * Datasheet: [[https://literature.cdn.keysight.com/litweb/pdf/5963-5390JA.pdf?id=1000073563:epsg:dow]] * Manual: [[https://www.keysight.com/main/editorial.jspx?ckey=1000002196:epsg:man&id=1000002196:epsg:man&nid=-11143.0.00&lc=jpn&cc=JP]] ---++ 参考資料 * ストリップQA関係 * [[https://edms.cern.ch/ui/#!master/navigator/document?D:100763558:100763558:subDocs][Test chip measurement guide]] * [[http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/43][Sensor Quality Assurance Database Test Input Parameters(.docxのやつ)]] * [[http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/44][QA data format (.pptxのやつ)]] * [[http://atlaspc5.kek.jp/elog/ATLAS+strip/45][Test chipの配線とか]] * E. Staats, "ATLAS Test Chip MOS Capacitor", presented at Strip Sensor meeting on 8th July 2020: https://indico.cern.ch/event/935450/contributions/3938786/attachments/2070575/3475887/MOS_Cap_EStaats_08072020.pdf * [[https://ecee.colorado.edu/~bart/book/book/chapter6/ch6_2.htm][MOS capacitors]] * [[https://twiki.cern.ch/twiki/bin/viewauth/Atlas/SensorQA][ITk strip sensor QA TWiki]] * ATLAS-J-ITk * [[https://kds.kek.jp/event/35276/contributions/172715/attachments/134581/162954/QC-japan2020July30.pptx][K. Hara, 30th July 2020]] (QA-TCの状況) * [[https://kds.kek.jp/event/35793/contributions/175736/attachments/136267/165654/1001_Strip.pdf][K. Saito on 8th October]] (たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況) * [[https://kds.kek.jp/event/36048/contributions/176956/attachments/137009/166745/ITkj_20201022.pdf][S. Hirose on 22nd October]] (QCQAのスケジュール) * [[https://kds.kek.jp/event/36199/contributions/177972/attachments/137592/167711/strip_1112.pptx][T. Ishii on 12th November]] (QA-TC site-Qサンプルの結果) * Strip sensor meeting * [[https://indico.cern.ch/event/968486/contributions/4076269/attachments/2131356/3589494/QC-japan2020Oct28.pdf][K. Hara on 28th October 2020]] * [[https://indico.cern.ch/event/972910/contributions/4096724/attachments/2140781/3607854/11112020_QA_Japan.pdf][K. Hara on 11th November 2020]]
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