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Magnetic Field Test at KEK | |||||||||||||
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> > | Photo写真:Photo | ||||||||||||
目的Ni/In バンプボンディングの磁場耐性の確認 | |||||||||||||
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< < | Experimentcosmicセットアップ検出器のセットアップは上から順番に MPPC0 / MPPC 2 / KEK102 / KEK103 / KEK104 / MPPC1 / MPPC3 | ||||||||||||
> > | 本実験Stress Test | ||||||||||||
Ni/In バンプのReal 4-chip-cards | |||||||||||||
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> > | cosmicセットアップ検出器のセットアップは上から順番に MPPC0 / MPPC 2 / KEK102 / KEK103 / KEK104 / MPPC1 / MPPC3 | ||||||||||||
Latency Scanデータ取得用のセットアップ→SCC(KEK80)を使って、MPPC triggerの動作確認→順調に動いてそう(富士B2でのセットアップ復元) |