Difference:
ITkStripQC
(4 vs. 5)
Revision 5
2020-11-16 -
ShigekiHirose
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ITk strip sensor QC
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Shigeki Hirose - 2020-11-12
Strip sensor QCについて
QCは、全センサーに対して行うことが要求されている。測定項目は以下。
Human visual inspection
すべての手順の前に、まず人間の目でセンサーをチェックする。
Machine visual capture and inspection
自動ステージにセンサーを載せ、カメラで撮影して外観の状態を保存する。
IV & CV measurement
温度21 +/- 2 degC、湿度20%以下の環境で、バイアス電圧-500 VまでのIVとCVを測定する。
Metrology
Non-contact CMM (非接触三次元測定器)を使って高さとたわみと測定する。
Full strip test(全サンプルの5%)
ストリップごとに、バイアス電圧をかけた時の電流とキャパシタを測定する。(それぞれDC測定、AC測定と呼んでいる)
Leakage current stability (KEK-HPKではやらない)
プレプロダクションのデータはpc8に保存されている。プレプロダクション中、測定方法が時々変わっていたり、セグメントやストリップ番号のつけ方がずれていたりするので注意が必要。
セグメント番号・ストリップ番号について
最終データシート(測定結果のまとめとIVデータが載っている.txt)のセグメント番号は常に正しく、ストリップ番号も常に0始まりになっている
AC・DC測定の生データ(.csv)はすべて1始まり
Changed:
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<
セグメント番号は???
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セグメント番号は、DC測定の生データは全部逆、AC測定はキャパシタンスデータになってるものは逆、電流データのものは正しい
AC測定について
Added:
>
>
VPX32415、VPX32418とVPX32411の1枚は電流データ、そのほかはLCRメーターによる静電容量データ。
電流データ:測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。順電圧+30 Vをかけてセンサー内を導通させているので、結合容量が見えている。電圧をかけてからt秒後の電流値が結合容量に比例することを利用している(tがバラバラなので、バッチ間での比較はできない)。
静電容量データ:-逆バイアス100 Vをかけた時のLCRメーターでストリップ-バックプレーンの間の静電容量を測っている。
DC測定について
測定方法は中村さんの2020/5/28 ATLAS-J-ITkでのスライドを参照。逆バイアス30 Vで表面を空乏化させた上で、隣接ストリップとの電位差1 VでRintを測っている。
参考資料
ATLAS-J-ITk
K. Nakamura on 1st April
(プリプロダクションまとめとQC状況)
K. Saito on 21st May
(DCAC測定について)
K. Nakamura on 28th May
(DCAC測定について)
K. Saito on 8th October
(たわみ測定の改善とQA-TC、QA-CCEの状況)
S. Hirose on 22nd October
(QCQAのスケジュール)
Draft of QC document KEK-HPK
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