Difference: MagneticTestAnalysis (2 vs. 3)

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Magnet Test Analysis

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内部飛跡検出器は磁場中に置かれているためシリコン検出器内で生じた電子正孔対は磁場による影響を受け、電荷収集位置が本来の位置からある角度（=ローレンツ角）を持ってシフトする。電子正孔対はシリコン結晶中で散乱されながら進むため、一定速度とみなすことができそのためシフトの角度は常に一定である。

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ローレンツ角を\phi_{L}、収集位置のずれを\Delta x、空乏層の厚みをdとすると、

\[\tan{\phi_{L}}=\frac{\Delta x}{d}\]

としてローレンツ角を定義できる。

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