Difference: MagneticTestAnalysis (1 vs. 6)
Revision 62016-04-06 - JunkiSuzuki
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Lorentz angle内部飛跡検出器は磁場中に置かれているためシリコン検出器内で生じた電子正孔対は磁場による影響を受け、電荷収集位置が本来の位置からある角度（=ローレンツ角）を持ってシフトする。電子正孔対はシリコン結晶中で散乱されながら進むため、一定速度とみなすことができそのためシフトの角度は常に一定である。
ローレンツ角を\phi_{L}、収集位置のずれを\Delta x、空乏層の厚みをdとすると、 \[\tan{\phi_{L}}=\frac{\Delta x}{d}\] としてローレンツ角を定義できる。 クラスターサイズとローレンツ角
磁場がない場合は垂直入射の時のクラスターサイズが最小になるが、磁場がある場合 は収集方向がローレンツ角分シフトするため垂直入射では最小にならない。磁場がある場合に於いてはローレンツ角と等しい入射角の場合、収集方向が飛跡と一致し真っ直ぐ電極 にドリフトすることができるので、この場合が最小クラスターサイズとなる。よって、クラスターサイズと入射角の関係をプロットし、そのプロットにおける最小となる角度がローレンツ角であると見なせる。
Setup and Geometory本実験では4chipピクセル検出器3枚（Ni/In品）とプラスチックシンチレータとMPPCを用いたトリガーモジュールを用いた。これらを低温センターの1.6Tソレノイド中に遮光して設置した。宇宙線ミュー粒子がこの検出器系に入射すると、ピクセルとトリガーモジュールに信号を残す。 トリガーモジュールに入った信号はFPGA内で処理され、確実にミューオンと判定され場合ピクセルのヒット位置がraw data（~.raw）に書き込まれる仕組みになっている。 tuningは2400e_7ToT_10keで行った。  
ピクセルの向きは磁力線の方向とピクセルのcolumn方向が一致しており、天頂方向をz軸にとる。ローレンツ角は磁場に垂直な方向に寄与するので、ここではy軸（Row）方向にローレンツ角の影響が見られる。そのため、Trackを引いて入射角を求める際はyz平面に射影した角度を見る。
Raw dataData formatデータ収集を行うSTcontrolはrawファイル中にヒット情報を記録する。rawファイルに記入されている要素は以下のとおりである。 | |||||||||||||||
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※STcontrolにはデータの最後になぜか同じチャンネルを2回書き込むバグがあるのでchannel数 -1でbreakさせた。
Pixel Geometorycolumnとrowの値はそれぞれチップごとで与えられており、4chipの場合は以下の様にシフトさせる必要がある。column=column-1 row= row-1 (座標は1から始まっているので0からに直す)
AnalysisData reading
Clustering
Residual
Alignment
Tracking
FittingResulttestDownload | |||||||||||||||
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| > > | Magnet test 2のrawデータ http://atlaspc5.kek.jp/silicon/MagneticTest/ + ファイル名 （あとでリスト化します） | ||||||||||||||
--  Junki Suzuki - 2016-04-03
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Revision 52016-04-04 - JunkiSuzuki
Magnet Test AnalysisLorentz angle内部飛跡検出器は磁場中に置かれているためシリコン検出器内で生じた電子正孔対は磁場による影響を受け、電荷収集位置が本来の位置からある角度（=ローレンツ角）を持ってシフトする。電子正孔対はシリコン結晶中で散乱されながら進むため、一定速度とみなすことができそのためシフトの角度は常に一定である。
ローレンツ角を\phi_{L}、収集位置のずれを\Delta x、空乏層の厚みをdとすると、 \[\tan{\phi_{L}}=\frac{\Delta x}{d}\] としてローレンツ角を定義できる。 クラスターサイズとローレンツ角
磁場がない場合は垂直入射の時のクラスターサイズが最小になるが、磁場がある場合 は収集方向がローレンツ角分シフトするため垂直入射では最小にならない。磁場がある場合に於いてはローレンツ角と等しい入射角の場合、収集方向が飛跡と一致し真っ直ぐ電極 にドリフトすることができるので、この場合が最小クラスターサイズとなる。よって、クラスターサイズと入射角の関係をプロットし、そのプロットにおける最小となる角度がローレンツ角であると見なせる。
Setup and Geometory本実験では4chipピクセル検出器3枚（Ni/In品）とプラスチックシンチレータとMPPCを用いたトリガーモジュールを用いた。これらを低温センターの1.6Tソレノイド中に遮光して設置した。宇宙線ミュー粒子がこの検出器系に入射すると、ピクセルとトリガーモジュールに信号を残す。 トリガーモジュールに入った信号はFPGA内で処理され、確実にミューオンと判定され場合ピクセルのヒット位置がraw data（~.raw）に書き込まれる仕組みになっている。 | |||||||||||
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| > > | tuningは2400e_7ToT_10keで行った。 | ||||||||||
ピクセルの向きは磁力線の方向とピクセルのcolumn方向が一致しており、天頂方向をz軸にとる。ローレンツ角は磁場に垂直な方向に寄与するので、ここではy軸（Row）方向にローレンツ角の影響が見られる。そのため、Trackを引いて入射角を求める際はyz平面に射影した角度を見る。
Raw data | |||||||||||
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| > > | データ収集を行うSTcontrolはrawファイル中にヒット情報を記録する。rawファイルに記入されている要素は以下のとおりである。 | ||||||||||
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Pixel Geometorycolumnとrowの値はそれぞれチップごとで与えられており、4chipの場合は以下の様にシフトさせる必要がある。column=column-1 row= row-1 (座標は1から始まっているので0からに直す)
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Analysis | |||||||||||
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FittingResulttestDownload-- Junki Suzuki - 2016-04-03
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Revision 42016-04-04 - JunkiSuzuki
Magnet Test AnalysisLorentz angle内部飛跡検出器は磁場中に置かれているためシリコン検出器内で生じた電子正孔対は磁場による影響を受け、電荷収集位置が本来の位置からある角度（=ローレンツ角）を持ってシフトする。電子正孔対はシリコン結晶中で散乱されながら進むため、一定速度とみなすことができそのためシフトの角度は常に一定である。
ローレンツ角を\phi_{L}、収集位置のずれを\Delta x、空乏層の厚みをdとすると、 \[\tan{\phi_{L}}=\frac{\Delta x}{d}\] としてローレンツ角を定義できる。 | |||||||||
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クラスターサイズとローレンツ角
磁場がない場合は垂直入射の時のクラスターサイズが最小になるが、磁場がある場合 は収集方向がローレンツ角分シフトするため垂直入射では最小にならない。磁場がある場合に於いてはローレンツ角と等しい入射角の場合、収集方向が飛跡と一致し真っ直ぐ電極 にドリフトすることができるので、この場合が最小クラスターサイズとなる。よって、クラスターサイズと入射角の関係をプロットし、そのプロットにおける最小となる角度がローレンツ角であると見なせる。
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Setup and Geometory | |||||||||
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| > > | 本実験では4chipピクセル検出器3枚（Ni/In品）とプラスチックシンチレータとMPPCを用いたトリガーモジュールを用いた。 これらを低温センターの1.6Tソレノイド中に遮光して設置した。宇宙線ミュー粒子がこの検出器系に入射すると、ピクセルとトリガーモジュールに信号を残す。 トリガーモジュールに入った信号はFPGA内で処理され、確実にミューオンと判定され場合ピクセルのヒット位置がraw data（~.raw）に書き込まれる仕組みになっている。 | ||||||||
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ピクセルの向きは磁力線の方向とピクセルのcolumn方向が一致しており、天頂方向をz軸にとる。ローレンツ角は磁場に垂直な方向に寄与するので、ここではy軸（Row）方向にローレンツ角の影響が見られる。そのため、Trackを引いて入射角を求める際はyz平面に射影した角度を見る。 | ||||||||
Raw datatestAnalysis | |||||||||
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ResulttestDownload | |||||||||
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-- Junki Suzuki - 2016-04-03
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Revision 32016-04-04 - JunkiSuzuki
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Lorentz angle | |||||||||
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| > > | 内部飛跡検出器は磁場中に置かれているためシリコン検出器内で生じた電子正孔対は磁場による影響を受け、電荷収集位置が本来の位置からある角度（=ローレンツ角）を持ってシフトする。電子正孔対はシリコン結晶中で散乱されながら進むため、一定速度とみなすことができそのためシフトの角度は常に一定である。 | ||||||||
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ローレンツ角を\phi_{L}、収集位置のずれを\Delta x、空乏層の厚みをdとすると、 \[\tan{\phi_{L}}=\frac{\Delta x}{d}\] としてローレンツ角を定義できる。 | ||||||||
Setup and GeometorytestRaw datatestAnalysistestResulttestDownloadtest -- Junki Suzuki - 2016-04-03
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Revision 22016-04-03 - JunkiSuzuki
Magnet Test Analysis | ||||||||
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Setup and GeometorytestRaw datatestAnalysistestResulttestDownloadtest -- Junki Suzuki - 2016-04-03 | |||||||
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Revision 12016-04-03 - JunkiSuzuki
Magnet Test AnalysisArticle text. -- Junki Suzuki - 2016-04-03
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