sdeの復習2個の電極を持つLGADの構造を作るチュートリアル. 最初に実際にTCADを動かしてみた後、sde_dev.cmdをいじっていきます.![]() プロジェクトを作るcd /home/[username]/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials swb&
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/home/[username]/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials/LGAD/Strip
->OK
sde_dvs.cmdを作る今回はできているものをコピー . | |||||||||||||||||||
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cd ~/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials/LGAD/Strip
cp /home/onaru/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials/LGAD/example/sde_dvs.cmd ./
Project tabでNo toolsを右クリック->Add
![]() 変数の設定(p-well層の濃度)Project tab中 SDEアイコン下のセルを右クリック-> Add Parameter/Values![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() sde_dvs.cmdの編集sde_dev.cmdを見ながらもう一つの電極を作っていく. 中身は大きく分けて4つのパートから成る.
(define substrate_thickness 150.) = センサーの厚みを150µmに設定する.
L62 (define p_well_L_position (+ n_electrode_L_position 10) = pwell層のx方向の開始地点を(N電極のx方向の開始地点+10)µmに設定する.
L75 (define p_well_doping_concentration @ Dpwell@) = 変数Dpwellとしてpwell層の濃度を定義する.
セミコロンはコメントアウト.
今は左側の電極n_electrode_L, p_well_Lに関するところだけが有効になっているので、右側の電極n_electrode_R, p_well_Rに関するコメントアウトを外していってください.
<GEOMETRY>
デバイスの大きさやデバイスシミュレーションの際に使う電極を決めるところ.
はじめにバルク部の領域の定義をした後、それぞれの電極を作っている.
ここでもn_electrode_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください.
<DOPING>
不純物濃度を決めるところ.
はじめがバルク部に対する一様な不純物濃度の定義.
その後にN+, P+, Pwellに対する端がガウシアンで減少する分布の定義.
ここでもn_electrode_R, p_well_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください.
<MESH>
シミュレーションの細かさを決めるところ.全体に対する定義は,
;Refinament SUBSTRATE (ALL)(sdedr:define-refeval-window "RFW1" "Rectangle" (position Xmin Ymin 0) (position Xmax Ymax 0)) (sdedr:define-refinement-size "RFS1" (/ Xmax 50) (/ Ymax 10) (/ Xmax 500) (/ Ymax 100)) (sdedr:define-refinement-placement "RFP1" "RFS1" "RFW1") 2行目で領域、3行目で分割、4行目でmeshをかける. その後、電極に対してさらに細かいメッシュを作っている. ここでもn_electrode_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください. コメントアウトを全て外したらもう一度走らせて、sentaurus visualで見てみてください. 先ほどの右側にもう一つ電極ができているはず. | |||||||||||||||||||
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< < | 失敗する場合はn1_dev.logでエラーを確認できます. | ||||||||||||||||||
> > | 失敗する場合はn1_dev.logでログが見れるので確認してみてください. | ||||||||||||||||||
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sdeの復習2個の電極を持つLGADの構造を作るチュートリアル. 最初に実際にTCADを動かしてみた後、sde_dev.cmdをいじっていきます.![]() プロジェクトを作るcd /home/[username]/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials swb&
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sde_dvs.cmdを作る今回はできているものをコピー .cd ~/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials/LGAD/Strip
cp /home/onaru/work/Silicon/TCAD/Synopsys/tutorials/LGAD/example/sde_dvs.cmd ./
Project tabでNo toolsを右クリック->Add
![]() 変数の設定(p-well層の濃度)Project tab中 SDEアイコン下のセルを右クリック-> Add Parameter/Values![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() sde_dvs.cmdの編集sde_dev.cmdを見ながらもう一つの電極を作っていく. 中身は大きく分けて4つのパートから成る.
(define substrate_thickness 150.) = センサーの厚みを150µmに設定する.
L62 (define p_well_L_position (+ n_electrode_L_position 10) = pwell層のx方向の開始地点を(N電極のx方向の開始地点+10)µmに設定する.
L75 (define p_well_doping_concentration @ Dpwell@) = 変数Dpwellとしてpwell層の濃度を定義する.
セミコロンはコメントアウト.
今は左側の電極n_electrode_L, p_well_Lに関するところだけが有効になっているので、右側の電極n_electrode_R, p_well_Rに関するコメントアウトを外していってください.
<GEOMETRY>
デバイスの大きさやデバイスシミュレーションの際に使う電極を決めるところ.
はじめにバルク部の領域の定義をした後、それぞれの電極を作っている.
ここでもn_electrode_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください.
<DOPING>
不純物濃度を決めるところ.
はじめがバルク部に対する一様な不純物濃度の定義.
その後にN+, P+, Pwellに対する端がガウシアンで減少する分布の定義.
ここでもn_electrode_R, p_well_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください.
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シミュレーションの細かさを決めるところ.全体に対する定義は,
;Refinament SUBSTRATE (ALL)(sdedr:define-refeval-window "RFW1" "Rectangle" (position Xmin Ymin 0) (position Xmax Ymax 0)) (sdedr:define-refinement-size "RFS1" (/ Xmax 50) (/ Ymax 10) (/ Xmax 500) (/ Ymax 100)) (sdedr:define-refinement-placement "RFP1" "RFS1" "RFW1") 2行目で領域、3行目で分割、4行目でmeshをかける. その後、電極に対してさらに細かいメッシュを作っている. ここでもn_electrode_Rに関するところがコメントアウトされているので、外してください. コメントアウトを全て外したらもう一度走らせて、sentaurus visualで見てみてください. 先ほどの右側にもう一つ電極ができているはず. 失敗する場合はn1_dev.logでエラーを確認できます. -- ![]() Comments
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